全新TESTRAM泰斯特瑞 TAT150 可變功率衰減器 測量ISO14443中規定的非接觸式IC卡的能力。 通過自由改變來自讀寫器的信號， 我們明確了可以容納射頻強度、調制深度、頻率、調制定時等的范圍。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 傳輸信號的特性

日本供應TESTRAM泰斯特瑞 T8500接觸式IC發行系統 測量ISO14443中規定的非接觸式IC卡的能力。 通過自由改變來自讀寫器的信號， 我們明確了可以容納射頻強度、調制深度、頻率、調制定時等的范圍。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 傳輸信號的特性

進口TESTRAM泰斯特瑞 T8000接觸式卡檢發裝置 測量ISO14443中規定的非接觸式IC卡的能力。 通過自由改變來自讀寫器的信號， 我們明確了可以容納射頻強度、調制深度、頻率、調制定時等的范圍。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 傳輸信號的特性

池田屋TESTRAM泰斯特瑞 T8200-SHANNON量產檢測設備 測量ISO14443中規定的非接觸式IC卡的能力。 通過自由改變來自讀寫器的信號， 我們明確了可以容納射頻強度、調制深度、頻率、調制定時等的范圍。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 傳輸信號的特性

全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接觸卡評估裝置 測量ISO14443中規定的非接觸式IC卡的能力。 通過自由改變來自讀寫器的信號， 我們明確了可以容納射頻強度、調制深度、頻率、調制定時等的范圍。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 傳輸信號的特性